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美国最新专利膜厚仪博曼荧光电镀膜厚仪

   2013-10-28 8
 美国博曼荧光电镀膜厚仪随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。博曼荧光电镀膜厚仪实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量
 
的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。 
产品特点:
即放即测! 
通过自动定位功能,放置样品后仅需几秒,便能自动对准观察样品焦点。 
10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 
以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 
无标样测量! 
将薄膜FP软件进一步扩充,即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 
通过广域观察系统更方便选择测量位置! 
通过广域观察系统,能够从画面上的样品整体图(最大250×200mm)中方便地指定测量位置
如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。深圳市金东霖祝您工作愉快!联系人:舒翠  136 0256 8074  0755-29371655  QQ:2735820760
 

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